成分分析
时间:2020-08-04 14:33:40    来源:安普检测
异物分析
项目名称:异物分析
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异物分析,是专门分析产品上的微小嵌入异物或表面污染物、析出物进行之成分的技术。例如对表面嵌入异物、斑点、油状物、喷霜等异常物质进行定性分析,藉此找寻污染源或配方不相容者,是改善产品最常用的分析方法之一。

 

应用范围

针对产品上的表面污染物、析出物等异常物质,如产品表面的颗粒物、油状物、雾状物、斑点等。


表面异物分析项目

1.有机异物分析

2.无机异物分析

3.未知异物分析

4.产品异常现象比对分析


主要分析方法

方法

应用范围

红外光谱法
FTIR

1.显微FTIR, 仅需10um以上样品即可测试
2.有机物成分分析 (400-4000cm-1

扫描电子显微镜和能量色散X射线谱法
SEM/EDS

1.固体
2.元素分析/元素分布 (B-~U) /形貌观察

俄歇电子能谱分析仪法
AES

极表面 (0-3nm) 分析设备

X射线电子光能谱分析法
XPS

1.更精密的元素分析
2.元素价态, 存在形式分析

飞行时间⼆次离子质谱分析法
TOF-SIMS

ppm级别表面有机成分分析

动态⼆次离子质谱分析法
D-SIMS

ppb级表面及芯部成分分析

气相色谱质谱联用仪分析法
GC-MS

1.固体/液体
2.易挥发组分测试


分析步骤

1、表面观察:主要采用光学显微镜观察(OM)观察异物在表面还是嵌入在基体材料内。

2、异物物质种类判断:主要采用傅里叶变换红外光谱仪(FTIR)、显微红外(M)判断异物主要是有机物还是无机物。

3、有机物分析手段:可能涉及Py-GCMS、萃取GC-MS、MS等。

4、无机物分析手段(主要是元素分析):主要采用扫描电镜能谱仪(SEM-EDS)等。


测试仪器

GC-MC.jpg
电子扫描显微镜.jpg红外光谱.jpg
XPS.jpg俄歇电子能谱分析仪.jpg原子吸收分光光度计.JPG


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